晶體結(jié)構(gòu)優(yōu)勢(shì)
單晶硅的壓阻系數(shù)高達(dá)80×10?11Pa?1(比金屬應(yīng)變計(jì)高50倍)
無(wú)晶界缺陷(疲勞壽命>10?次循環(huán))
彈性模量溫度系數(shù)僅-60ppm/℃(不銹鋼為+300ppm/℃)
半導(dǎo)體特性
可微納加工(精度達(dá)±0.1μm)
兼容CMOS工藝(集成信號(hào)調(diào)理IC)
參數(shù) | 單晶硅傳感器 | 金屬應(yīng)變片式 | 陶瓷壓阻式 |
---|---|---|---|
精度 | 0.01%FS | 0.1%FS | 0.05%FS |
長(zhǎng)期穩(wěn)定性 | ±0.02%/年 | ±0.5%/年 | ±0.1%/年 |
溫度遲滯 | 0.005%FS | 0.1%FS | 0.02%FS |
響應(yīng)時(shí)間 | 0.1ms | 5ms | 1ms |
MEMS工藝
尺寸可小至1×1mm2(傳統(tǒng)傳感器>10mm2)
一體化結(jié)構(gòu)(無(wú)膠粘接應(yīng)力)
溫度補(bǔ)償
原位集成PT1000(補(bǔ)償精度±0.0005%FS/℃)
數(shù)字補(bǔ)償算法(32段分段修正)
極端工況表現(xiàn)
工作溫度-196~300℃(SOI工藝)
抗沖擊5000g(軍用級(jí))
耐輻照>100kGy(核電站應(yīng)用)
介質(zhì)兼容性
可選SiO?/Al?O3隔離膜(耐強(qiáng)酸堿)
無(wú)O型圈全焊接結(jié)構(gòu)(泄漏率<10??mbar·L/s)
自診斷系統(tǒng)
實(shí)時(shí)橋路阻抗監(jiān)測(cè)(檢測(cè)老化)
膜片應(yīng)力分析(有限元模型比對(duì))
邊緣計(jì)算
內(nèi)置AI芯片(動(dòng)態(tài)誤差補(bǔ)償)
支持?jǐn)?shù)字孿生接口(OPC UA)
高精度領(lǐng)域
航空液壓(0.01%FS精度)
半導(dǎo)體設(shè)備(1Pa分辨率)
微型化需求
醫(yī)療導(dǎo)管(Φ0.5mm尺寸)
MEMS麥克風(fēng)(集成ASIC)
批量成本
晶圓級(jí)制造(單片產(chǎn)出>5000顆)
成本比金屬傳感器低60%(量產(chǎn)后)
生命周期
免維護(hù)周期10年(傳統(tǒng)5年)
校準(zhǔn)間隔延長(zhǎng)3倍
前沿發(fā)展
量子隧穿效應(yīng)傳感器(0.001%FS)
自供能設(shè)計(jì)(壓電能量收集)
5G直連(<1ms時(shí)延)
該技術(shù)符合ISO 8763特級(jí)標(biāo)準(zhǔn),在光刻機(jī)氣浮臺(tái)壓力控制中,將系統(tǒng)穩(wěn)定性提升至納米級(jí)。最新SOI-on-SiC版本可在600℃環(huán)境下工作,成為極端環(huán)境監(jiān)測(cè)的終極解決方案。
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